Toshiba Memory annonce la mémoire flash 3D à 96 couches

Toshiba Memory Corporation, le leader mondial en solutions de mémoire, a annoncé aujourd’hui le développement d’un échantillon prototype de mémoire flash tridimensionnelle (3D) à 96 couches BiCS FLASH™, dotée d’une structure empilée^[1], avec une technologie à 3 bits par cellule (cellule triple niveau, Triple-Level-Cell, TLC). Le lancement d’échantillons du nouveau produit à 96 couches, un dispositif de 256 Gbits (32 Go) est prévu pour le deuxième semestre 2017 et la production de masse pour 2018. Le nouveau dispositif répond aux exigences et aux spécifications en termes de performance du marché pour des applications, telles que les SSD d’entreprise et grand public, les smartphones, les tablettes et les cartes mémoire.
 

Dans un proche avenir, Toshiba Memory Corporation appliquera sa nouvelle technologie de procédé à 96 couches aux produits de plus grande capacité, tels que la technologie de 512 Gbits (64 Go) et à 4 bits par cellule (cellule à quadruple niveau, Quadruple-Level-Cell, QLC).
 

Le procédé innovant d’empilage à 96 couches, combiné à une technologie de procédé de fabrication et de circuit de pointe, augmente la capacité d’environ 40 % par dimension de puce unitaire du procédé d’empilage à 64 couches. Il réduit le coût par bit et augmente la fabricabilité de la capacité de mémoire par tranche de silicium.
 

Depuis l’annonce de la première^[2] technologie de mémoire flash 3D prototype au monde en 2007, Toshiba Memory Corporation a poursuivi le développement de la mémoire flash 3D et promeut activement BiCS FLASH™ en réponse à la demande de plus grandes capacités avec des puces de taille réduite.
 

Ce modèle BiCS FLASH™ à 96 couches sera fabriqué par Yokkaichi Operations dans la Fab 5, la nouvelle Fab 2 et Fab 6, qui ouvriront en été 2018.

Notes :

[1] Une structure empilant des cellules de mémoire flash à la verticale sur un substrat de silicium afin de réaliser des améliorations significatives de la densité par rapport à la mémoire flash planaire NAND, où des cellules sont formées sur le substrat de silicium.
[2] Source : Toshiba Memory Corporation, le 12 juin, 2007.

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